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集成光学制备工艺中的清洗和腐蚀

【来源:《半导体技术》】【编辑:郭亚明】【时间: 2006-3-2 9:05:11】【点击:

摘要:论述了集成光学光刻、镀膜工艺中对基片的清洗步骤,阐述了常规材料的腐蚀方法及腐蚀液配制,并分析了腐蚀工艺过程中易出现的问题。

关键词:超声波清洗;干法/湿法腐蚀; 浮胶;晶片再生

中图分类号:TN305.97 文献标识码:A 文章编号:1003-353X(2005)01-0032-03

1 引言

集成光学技术是在微观领域中进行探索研究的科学,经过近30年的发展,目前已形成较完善的理论及工艺制造体系。它的发展,带动了光通信及光信息处理等方面的迅猛发展。目前不仅多种类的分立光学器件得以大量应用,而且单片多功能光路器件在工艺技术不断创新的今天,也已得到相应的开发应用。由于该项学科技术的特殊性,决定其光学器件制作工艺十分严格复杂。因此,如何使各项工艺、设备更加科学化、规范化,使之在成本、环保、安全等诸多方面更趋合理严谨,将是我们不断探索实践的课题。

2 清洗

无论是光刻工艺还是镀膜工艺,其第一道工序就是对基片进行清洗。基片表面处理得好坏,对后续工艺质量的影响至关重要,必须引起重视。

2.1 光刻工艺中的清洗步骤

将待清洗的基片放入培养皿中,按顺序分别用四氯化碳、丙酮、乙醇,对基片进行超声波清洗两遍,10min/遍。然后用去离子水冲洗干净,并吹掉基片表面残留水分。最后放入95℃烘箱中,烘干30min。也可置于洁净台内用红外灯烘干。

若是刚从镀膜机中取出的基片立即涂胶光刻,则可不需清洗步骤。基片表面处理不当,将导致涂胶不均及容易出现显影时的浮胶断条现象。

2.2 镀膜工艺对基片的清洗步骤

从洗液中取出称量瓶,用去离子水冲洗干净。将基片放入后,分别用四氯化碳溶液、丙酮、乙醇(盐酸、双氧水、去离子水的比例为1:1:7,氨水、双氧水、去离子水为1:1:7)对其进行清洗。按以上顺序分别放入75℃蒸锅中各蒸洗10min。在更换不同溶液时,期间需用去离子水冲洗基片,废液倒入废液瓶中。

以上步骤完成后,将基片用去离子水漂洗干净,在洁净室中需一片一片从去离子水中取出,立即朝一个方向吹掉表面水分,然后放入95℃烘箱中烘干30min。同样可置于红外灯下烘干。

2.3 洗液配制
将搪瓷盆洗净,倒入200g重铬酸钾,然后倒入2000ml的浓硫酸。待进行一段时间的反应,重铬酸钾全部溶解形成洗液(重铬酸钾200g + 硫酸2000ml= 洗液)。因化学反应会产生一定的温度,故待冷却后方可将洗液灌入瓶中使用。

3 腐蚀

腐蚀,是用适当的腐蚀液,将无光刻胶膜覆盖的衬底基片上薄膜材料腐蚀掉,而有光刻胶覆盖的区域保存下来。因此所用的腐蚀液必须既能腐蚀掉裸露的衬底表面薄膜材料,又不损伤光刻胶膜,这样才能把所需的图形准确地刻蚀出来。

3.1 腐蚀因子

对于显影干净、图形完整、边缘整齐的待腐蚀基片,其腐蚀图形的质量主要由光刻胶与衬底之间的粘附性好坏来决定。当光刻胶的粘附状况好时,光刻胶图像下的横向腐蚀就小。可用腐蚀因子F来衡量图形的质量[1]。

F = 腐蚀深度V / 侧向腐蚀宽度X

F值大,表示腐蚀效果好。一般F 值在0.5-2.5之间。通常F>1 则可进行生产。

3.2 腐蚀方法

腐蚀方法可分为干法和湿法两种。干法腐蚀分为等离子腐蚀、溅射腐蚀和反应离子腐蚀等,工艺简单,无公害,但需相应的设备;湿法腐蚀虽有各向同性的缺点,但由于它设备简单,价格便宜,目前仍是普遍采用的方法 [1]。腐蚀液的配方视被腐蚀材料和光刻胶性能而定。

3.3 常用材料的腐蚀
① SiO2

HF∶NH4F(40%水溶液)= 1∶6

HF∶NH4F(固态):H2O = 3∶6∶9(氢氟酸:氟化铵)

② Ti

HF∶HNO3∶H2O = 1∶1∶5(氢氟酸:硝酸:水),一般1μm厚的钛膜,常温下腐蚀时间为1min。
③ Al

腐蚀液为20%的氢氧化钠(NaOH)或氢氧化钾(KOH)溶液和纯磷酸 H3PO4 。

以H3PO4为例,操作过程是:用水浴加热 H3PO4至70℃,放入待腐蚀的基片,将容器放入超声波发生器中进行腐蚀。腐蚀过程中应把基片不断从腐蚀液中取出,放入乙醇中以去除气泡。

化学反应式为 :2Al+6H3PO4=2Al(H2PO4)3 + 3H2↑

④ Ni

HNO3∶HCl∶H2 O = 1∶1∶3(硝酸:盐酸:水), 腐蚀温度通常选择在0℃下进行。

⑤ Cr

HCl(浓)∶H2O =3∶7(80℃温度下进行)。

⑥ W

金属腐蚀液和亚硝酸钠(25g)+氢氧化钠(4g)+水 (100ml)

⑦ Pt,Au

腐蚀液为HCl∶HNO3 = 3∶1

化学方程式:Au + HNO3 + 3HCl = AuCl3 + NO + 2H2O

3Pt + 4HNO3 + 12HCl = 3PtCl + 4NO + 8H2O

金和铂与光刻胶的粘附性能较差,腐蚀时应适当选用金属抗蚀剂,以防产生钻蚀现象。工艺通常在室温下进行,腐蚀速率约为0.3μm/min。

3.4 操作要点

操作过程必须合理。通常在腐蚀前先试做一片,找出腐蚀时间。在超声腐蚀时基片最好平放,不然会由于超声能量不一而造成腐蚀不均匀,使局部腐蚀不干净。

3.5 常见的工艺问题

① 侵蚀。腐蚀过程中因侵蚀而造成图形几何尺寸的变化是最易发生的问题,也是最难控制的。必须注意从涂胶开始的每一个操作条件,尤其是腐蚀条件,才能得到一个较好的结果,不然会由于侵蚀而破坏图形。

② 腐蚀不干净。由于腐蚀条件(温度、时间、纯度)掌握不好或腐蚀液配比发生变化等原因,会造成腐蚀不净,留有底膜。例如在腐蚀SiO2层时,一次腐蚀后发现腐蚀未干净,这时必须把片子清洗干净,待水分挥发干后再进行第二次腐蚀,否则会由于第一次腐蚀后的孔内留有水泡,降低此区域的腐蚀速率,而严重影响腐蚀质量。

4 镀膜机观察窗及观察镜的清洗

镀膜机经多次镀膜工艺后,观察窗玻璃会受到各种不同金属的污染而影响观察效果,需将其取下清洗。

清洗方法:配制腐蚀液、侵泡、加温。

① KMnO4+NaOH+H2O=3g+1g+100g

② HF∶HNO3∶H2O=1∶1∶50

观察镜。根据镜表面不同金属材料的污染来配制相应的腐蚀液,但腐蚀时间不宜过长。用超声波清洗效果更好,最后用去离子水冲洗干净。

5 晶振片的再生方法

镀膜工艺中当发现膜厚速率监控仪THICKNESS 显示为全“0”时,则证明晶振片已不起振而失效。一般晶振片上被镀膜层达2-3μm时,需再生处理。方法是:取下晶振片放入培养皿中,倒入适量浓度为34%的硝酸溶液,用超声波清洗器清洗,当观察晶振片上的膜层完全清洗掉后取出,用去离子水冲洗后烘干再装回原位,并使其电极可靠接触。

晶振片较易破碎,因此用镊子夹取时不可用力过大。若使用前先在晶振片表面镀上一层保护膜(Ag为50-100nm或Al 2O3为50nm),则可延长其使用寿命。

为提高成品率,满足迅猛发展的光通信产业对器件体积、成本和集成化的要求[2],需特别注重工艺的各个环节,加强对基片表面清洁处理。


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