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非接触式检测方式的发展

【来源:中电网】【编辑:admin】【时间: 2006-7-28 9:05:39】【点击:

摘 要:随着电子产品生产水平的提高,电路板设计要求也逐步趋于高精度和超细微化,传统的检测方式越来越无法满足精确的检测需要,所以非接触式电气检测方式将成为后期FPC检测发展的趋势。

随着电子产品生产水平的提高,电路板设计要求也逐步趋于高精度和超细微化,传统的检测方式越来越无法满足精确的检测需要,如传统的控针电气检测方式变得越来越困难。所以非接触式电气检测方式将成为后期FPC检测发展的趋势。目前电路板的电气检测分为接触式和非接触式两种。比较传统的接触式检测方式,包括飞针、泛用型、专用型和导电硅胶等。飞针测试最大的优势在于不需要治具,但在产能和设备成本上相较于固定治具仍处劣势。泛用型和专用型检测机,则相对设备成本低,便需要治具并在高密度产品的检测上有很大的难度。

而非接触式电气检测方式使微米级的电检成为可能。现已被广泛应用于两端非接触式液晶和等离子玻璃面板的检测(GX3)。非接触感应器可用来检测非常细微的电路(5υm线间距)。其检测原理是:在输入端用探针或感应器印加电压信号(开路检测为交流,短路检测为直流),在输出端(通过线路和非接触感应器之间产生的静电容)接收输出信号,并对此信号进行抗干扰和放大处理,然后转换成数据通过电脑演算显示测试结果。 以下是非接触式与传统检测方式的比较:

 


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