由此可见，Agilent的93000 SOC测试系统在软、硬件上都可以充分支持SoC芯片的共时测试，为用户缩短测试时间、提高测试效率提供了新的空间。同时，由于其独立的端口结构，增强了系统配置的灵活性，为用户提供了高效的配置方案。
4 混合信号测试(Mixed-signal Testing)
在计算机的世界之中，我们可以发现到处都是数字（digital）的影子。0与1的文字、二进制的表示，几乎让人处在一个绝对分明的虚幻世界里。然而在现实生活当中，存在的却多是模拟（analog）的信号，例如我们说话的声音、看到的影像以及感受到的温度。为了处理人类实际的需求，在芯片中除了数字功能之外，我们也往往可以看到模拟与数字信号同时并存，即所谓的混合信号。
为了要测试芯片中的模拟电路是否正常，在测试系统中除了原本所具备数字方面的测试功能之外，通常还需要一些额外的选件。一般说来，波形发生器（Arbitrary Waveform Generator, AWG）、波形采样器（Waveform Digitizer, WD）和时隙分析仪（Timing Interval Analyzer, TIA）是最常用到的。波形发生器可用来产生各种形式的模拟信号，如弦波、方波、复合频率波形等，作为测试芯片时所需的输入波形﹔波形采样器则是用来撷取芯片所输出的模拟信号，以便我们处理和分析输出结果﹔而时隙分析仪则可以检测输出信号在时域（time domain）方面的特性，比如频率、工作周期、波形上升时间和下降时间等等。
举例而言，如果要测试一个放大器或模拟数字转换器（ADC），我们必须要使用波形发生器来产生模拟信号，输入待测的芯片，以进行所需的测试。而针对数字模拟转换器（DAC）的测试工作，则需要波形采样器，以撷取其所产生的模拟信号来做分析、判断。对于锁相环电路（PLL, Phase Locked Loop）的测试，可以用时隙分析仪来量测其输出的频率、周期等。
在混合信号的测试中，如何有效的区隔数字信号与模拟信号的互相干扰是非常重要的。由于共处在同一芯片中，这两种不同特性的信号往往会互相干扰，因此必须要特别注意把模拟电路的供电电源与数字电路的供电电源分开来﹔同样的，模拟电路的接地层，也要和数字电路的接地层分开，这样测试出来的效果才会比较好。
Agilent的93000 SoC测试系统针对不同的应用，为用户提供了多种不同的选件，以适应用户对速度、精度的不同需求。以下列出了其主要选件：
High Resolution AWG (1 MSample/s 18-bit)
High Speed AWG (128 MSample/s 12-bit)
30M AWG（30 MSample/s 16-bit）
Broadband High Speed AWG (500M Sample/s 12-bit)
Ultra High Speed AWG (2.6 GSample/s 8-bit)
4.1G AWG（4.1 Gsample/s 8-bit）
High Resolution Digitizer (2M Sample/s 16-bit)
20MHz Digitizer（5 MSample/s 16-bit）
High Speed Digitizer (41M Sample/s 12-bit)
Dual High Speed Sampler (1GHz input freq. 12-bit)
Time Interval Analyzer (TIA)
93000 SoC系统的这些选件，可以完成对于大多数应用的测试，如音频电路、视频电路以及汽车电子等。用户可根据自己的需求，灵活选择模拟选件，使得整个系统的配置更为灵活。
5 小结
SoC技术的发展，大大提高了芯片结构的集成度，对测试技术和测试系统也提出了更高的要求。提高测试效率，降低测试成本，是每个业者面临的挑战。Agilent的SoC 93000 系统为SoC芯片提供了完备的解决方案，本文在共时测试和混合信号测试方面进行了探讨。 |
