当前位置:首页 >> 技术文章 >> 正文

锡须的产生原因和预防措施

【来源:pcba网】【作者:admin】【时间: 2006-1-17 9:10:31】【点击:


锡须的产生原因:

1、锡与铜之间相互扩散,形成金属互化物,致使锡层内压应力的迅速增长,导致锡原子沿着晶体边界进行扩散,形成锡须;

2、电镀后镀层的残余应力,导致锡须的生长。

解决措施:

1、电镀雾锡,改变其结晶的结构,减小应力;

2、在150镀下烘烤2小时退火;(实验证明,在温度90镀以上,锡须将停止生长)

3、Enthone FST浸锡工艺添加少量的有机金属添加剂,限制锡铜金属互化物的生成;

4、在锡铜之间加一层阻挡层,如镍层。

下一篇:没有了
最新文章
锡须的产生原因和预防措施
无铅制程导入建议流程
锡膏检查:形成闭环的过程控
PCB及相关材料IEC标准信息
手机RF设计技巧(三)
手机RF设计技巧(二)
手机RF设计技巧(一)
未来环保清洗工程技术
满足RoHS等多种环保法规的捷
绿色产品与环境保护
竖碑现象的成因与对策
挠性印制线路板试验方法
集成电路的检测常识
(2) 在电路测试阶段使用无铅
(1) 在电路测试阶段使用无铅
热点文章
IPC标准
《IPC-9850表面贴装设备性能检
欧盟双指令(WEEE/ROHS指令案)
IPC技术标准目录之 电 子 组 装
如何有效控制湿度敏感器件
IPC-9850表面贴装设备性能检测
高密度封装进展(之一)
现代PCB测试的策略
CSP引发内存封装技术的革命
焊锡膏使用常见问题分析
BGA封装形式对再流焊效果的影响
线路板装配中的无铅工艺应用原
线路板装配中的无铅工艺应用原
线路板装配中的无铅工艺应用原
线路板装配中的无铅工艺应用原
会员名称:
密码:匿名 ·注册·忘记密码?
评论内容:
(最多300个字符)
  查看评论