当前位置:首页 >> 技术文章 >> 正文

无铅元件表面组装的自对中研究(三)

【来源:EM asia China电子制造中国】【作者:Amey Teredesai】【时间: 2006-11-15 10:08:12】【点击:


在各种氧气水平下,ENIG处理板的元件自对中

    此节研究各氧气水平下ENIG处理板的元件自对中。附录B图E显示并分析了经回流后组装检查而得的试验数据。
使用锡铅焊料合金在50ppm氧气水平回流气体下回流的ENIG处理板缺陷最少。但一个值得关注的结果是,ENIG处理板上SAC405合金的表现非常好。而最多的缺陷则发生在100ppm下回流,使用SAC305合金的板子上。从收集的数据,按缺陷数来看,锡铅焊料相比其他锡膏表现更佳,而和氮气中的氧气水平无关。

    为了验证试验中锡铅焊料合金相比无铅合金有更强的拉回能力这一结果,使用了成对T检验这一统计测试结果。但是,统计测试的结果却并未支持测试板视觉检查中所得的试验数据。

结论
    在这项研究中,我们试图完全按照实际的SMT组装环境来使用测试板和各种类型的片式元件。锡铅焊料合金和两种不同的无铅合金被用来比较类似工艺条件下它们的自对中能力。

    遵循如下的标准组装工艺,包括钢板印刷、元件放置、焊锡合金通用的回流曲线。目的是为了理解无铅组装中,故意偏置片式元件的自对中现象。

    尽管如此,根据对回流后组装板进行视觉检查而得到的缺陷数数据显示,锡铅共晶焊料合金可能比所有两种候选无铅合金具有更强的元件自对中能力。但是,统计测试却未支持这一数据分析。这项研究所得的结果,可以作为今后实施更多研究工作的指导方针,来理解无铅焊锡的元件自对中能力。

REFERENCES
1. Barbini, D., “Effect of Reflow Parameters on Process and Reliability of Lead-Free Electronics Assemblies”, Proceedings of the Technical Conference, APEX, 2001, p. LF1-5.
2. Grusd, A., “Lead Free Solders in Electronics”, Proceedings-Surface Mount International, 1997, pp648-661.
3. Johnson, W., Lugo, R., Sattiraju, V. and Jones, G., “Improved thermal process control for lead-free Assembly”, Proceedings of the Technical Conference, APEX, 2001.
4. Noreika, R., Fieselman, C., Slesinger, K. and Weller, M,. “SMT component self-centering properties during solder reflow”, SMTA International, 1997
5. Saiyed, S., D.L. Santos, and J. McLenaghan, “SMT Assembly Process Comparison of Pb-Free Alloy Systems - Part I,” Proceedings of the 8 Annual Pan Pacific Microelectronics Symposium, 71-81, Hawaii, February 2003.
6. Saiyed, S., D.L. Santos, and J. McLenaghan, “SMT Assembly Process Comparison of Pb-Free Alloy Systems - Part II,” APEX 2003 Conference Proceedings, pp. S18-1-1 ¨C S18-1-12, Anaheim, CA,March-April 2003.
7. Shina, S., Bresnan. T., Provencal. P., Walters, K.,Biocca, P., Abbott D. and Pinsky, D., “Selecting Material and Process Parameters for Lead-Free SMT Soldering Using Design of Experiments Techniques”, Proceedings of the Technical Conference, APEX, 2001, pp LF1 1-1.

附录 A
Paired T-Test and CI: SnPb_50ppm_50%H,
S405_500ppm_50%H

 

 

 

 

 


 


下一篇:没有了
最新文章
无铅元件表面组装的自对中研
无铅元件表面组装的自对中研
无铅元件表面组装的自对中研
倒装芯片的高速度、低成本、
集成电路封装高密度化与散热
多重入晶圆制造系统动态投料
高速HDI电路板设计过程的考虑
先进的叠层式3D封装技术及其
电子封装中的铝碳化硅及其应
焊点技术小结
等离子清洗的应用与技术研究
环氧线路板清洁化要抓3大环节
电子信息产品污染控制三大标
电子信息产品中有毒有害物质
先进的芯片尺寸封装(CSP)技术
热点文章
IPC标准
《IPC-9850表面贴装设备性能检
欧盟双指令(WEEE/ROHS指令案)
IPC技术标准目录之 电 子 组 装
如何有效控制湿度敏感器件
焊锡膏使用常见问题分析
IPC-9850表面贴装设备性能检测
现代PCB测试的策略
高密度封装进展(之一)
CSP引发内存封装技术的革命
BGA封装形式对再流焊效果的影响
线路板装配中的无铅工艺应用原
线路板装配中的无铅工艺应用原
线路板装配中的无铅工艺应用原
线路板装配中的无铅工艺应用原
会员名称:
密码:匿名 ·注册·忘记密码?
评论内容:
(最多300个字符)
  查看评论