安捷伦的测试与检测创新获奖

【来源:中国电子制造网】【编辑:admin】【时间: 2008-5-14 9:14:11】【点击:】

安捷伦科技有限公司已宣布其最新推出的测试与检测创新在4月份举行的两场大型行业展会上荣膺多个行业奖项。在2008年Nepcon上海展览会上，安捷伦Medalist x6000自动X射线检测解决方案再度荣获《SMT China》杂志"自动X射线检测与测试"类"远见奖"。今年早些时候，Medalist x6000还赢得了《测试与测量世界》杂志2008年"最佳测试奖"优胜奖。同样在2008年Nepcon上海展览会上，作为Medalist VTEP v2.0无矢量测试套件的组成部分，安捷伦"网络参数测量"技术还荣膺《亚洲电子制造》杂志的"测试系统/设备"类"创新奖"。在拉斯维加斯APEX行业展览会上，作为加入安捷伦VTEP 2.0驱动套件的最新有限访问解决方案，"覆盖扩展"技术成为了IPC"创新技术中心奖"得主之一。安捷伦的测量系统部市场总监NK Chari说："很荣幸我们的测试与检测创新能够得到行业认可。我们希望能够连续不断地改革并推出最完整的测试与检测解决方案套件，从而帮助制造商克服各种技术与商业挑战。"

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