陈旭博士,朗讯科技公司可靠性研究部可靠性工程师。在半导体,电子封装，电子制造，表面镀层及涂覆，失效模式分析和可靠性评估方面具有丰富经验。陈博士曾获得多个奖项，包括在SUR/FIN2000的“Excellence in Presentation Awards”和在APEX会议的“Best Paper Award”。陈旭1983年上海同济大学获得化学学士学位,1991年德国波鸿的鲁尔大学获得博士学位,担任过Enthone, Cookson Electronics公司的高级科学家，朗讯科技公司的项目领导人/MTS ，在Hoechst 研究和技术中心担负研发工作。
