Joel Woodward在介绍Agilent新推出的逻辑分析仪时,还特别提到探头问题。Joel Woodward认为,在许多情况下,探头可能会成为分析仪性能中的瓶颈,如果逻辑分析仪收到的信号劣化,不能有效地连接到被测系统上,那么分析仪内部的触发和分析工具再强大也是没用的。因此,在信号速度提高时,探头连接决定着是否能实现精确的测量。在使用逻辑分析仪时,设计人员必须考虑的第一个因素是需要什么样的探头形状。探头连接分成两类:留测试点和无预留测试点。预留测试点探测是指在前期设计中预留探头测试点,它可能基于连接器,也可能基于焊盘。不管是哪种情况,逻辑分析仪探头通过相应的互连,与这些触点连接起来。在基于连接器的探头中,探头包含了插头和对应的植入被测系统的插座连接器。在基于焊盘的连接中,探头带有弹性互连装置,将接触PCB上的焊盘。第二类探头是无预留测试点探测法 ,是指在设计中没有考虑可测试性,而使用单独的、拥有各种互连配件(焊接、夹子等)的探针。
目前,Agilent提供的FPGA动态探头是市场上第一种能把FPGA设计的电路内部布局映射到逻辑分析仪通道上的探头,此探头可在不到一秒的时间内,在FPGA内部移动探点,快速简便地测量不同的内部信号,每个针脚可以观察到64个内部FPGA信号,查找到设计上的问题,并且无需重新汇编设计,避免了信号设置错误,加速逻辑分析仪的信号设置、总线命名和连接。最近Agilent又推出业内最小的17通道软接触焊盘式的逻辑分析仪探头,它的优点是,快速和简便的连接,对目标系统具有最小的负载效应,不必设计专用的连接器,它采用微型弹簧针脚技术,不要求专门清洁或处理焊盘表面,即可进行可靠连接。适用于狭窄的空间,实现几十路信号的检测。另外,在检测FPGA中需要更高的灵活性时,还可使用Agilent的高性能的飞线探头,飞线探头可解决各种检测中的灵活性问题,它能接到单个信号上,这是其它方法所难以解决的。
Joel Woodward表示,随着数字电路密度和性能不断提高,也推动着新的结构发展(如LVDS、高速串行总线、SOC),Agilent的逻辑分析仪也要不断推陈出新,去应对新技术的挑战。