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亚微米X射线检测低于1µm微粒

【来源:SMT China Magazine】【编辑:admin】【时间: 2006-10-21 9:57:02】【点击:

    Phoenix公司X射线系统的Microme型X射线亚微米、高分辨率系统,以及BGA、CSP、MLF和QFP的手动及半自动焊点检查。X射线检查仪能够检测长度不到1µm的物品,最大放大倍率达13.300倍。
    这个系统集成了一部两百万象素照相机、开放式16 0Kv或者180Kv的亚微X射线管,检测软件会自动生成通过/失败的参数,无需操作人员干预。这台机器执行工艺控制、失败分析和算法驱动应用测试。它有一个360°的旋转轴,最大倾斜度达70°,扫描区域为18 × 14 inch2,取样范围达680 × 635 mm2。

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