YESTech将在于加州圣何塞举行的2007年国际微电子与封装协会展（IMAPS 2007）第324号展台上展出其新型YTV M1m自动光学检测仪。下一代M1自动光学检测系统基于YESTech的专利机器视觉软件，它提供同类领先的性能及其极其迅速和简易的程序开发手段。强大的创新型检测运算法则，可轻松识别所有的可视构件、铅和不规则焊料。YESTech的300万像素高级薄型相机（TM）和新型"融合照明"（TM）技术，创造了惊人的缺陷覆盖率和极低的报错率。它成为了当今生产工艺减少成本、提高质量和扩大产量的必备工具。

      M1具有小足迹和板操作系统，专为最大程度地提高灵活性而设计，并能够迅速适应回流前后检测以及大量返工与数据跟踪情景。M1聚焦应对自动光学检测设备制造商面临的严峻挑战，并重点开发新产品，对含01005元件的装配进行精确检测。M1m的编程既迅速又直观。通过输入计算机辅助设计（CAD）数据，用户可在不到一个小时的时间里制成一份完整的方案。离线编程系统使工程师能够在任意远程位置开发完整方案，并不影响生产。YESTech总裁Don Miller说："很高兴能参加今年的国际微电子与封装协会展，并展示我们最新的自动光学检测创新。YTV M1m在行业中是独一无二的，它为高要求的微电子应用提供了最新技术。"