2007年11月27日，半导体测试公司惠瑞捷宣布，日本冲电气工业株式会社（OKI）已选用其V93000 Port Scale射频测试解决方案以测试其高集成度无线通信芯片。这成为业内迅速采用第一个完全集成化多端口方案实施高集成度射频芯片测试的范例。

OKI芯片目前已被消费电子制造商广泛地应用于各种终端产品的制造中，包括：机顶盒、手机、掌上电脑和其它无线产品等等。OKI亦利用其在封装技术方面的优势向其它制造商提供封装与测试服务。而Port Scale射频测试解决方案凭借其独到的性能、具有优势的测试成本、v93000平台的可靠性和可扩展性以及遍布全球的高质量应用测试服务支持，为OKI的测试服务业务进一步提供更多的价值。

目前十大射频半导体供应商中有八家正以Port Scale射频方案开发超过25种各类产品，并准备在未来数月内投入量产。这些芯片包括含当今最具有挑战性的3G和4G技术，如UWB和WiMAX技术、蓝牙、GPS导航和ZigBee等。

Port Scale 射频测试解决方案
基于v93000 soc测试平台的Port Scale射频测试 试解决方案提供了经济有效且可靠的射频测量功能，能够对内含整合射频、混合信号、数字、电源管理、以及嵌入式或堆叠式内存的各类最新的高集成度芯片实施测量，是目前唯一能够满足3G、4G以及高集成度射频设备对于高容量、多点并行测试要求的方案，同时也是这些产品进行量产可行性测试必不可少的平台。

解决方案包括：
• 具有领先的高效率的多点并行测试能力的高产量射频测量仪器。
• 业已证实的性能，可重复性和稳定性，所有这些均能改善芯片成品率和测试质量。
• 可扩展，并行测试。

惠瑞捷V93000
惠瑞捷V93000是一套可扩充的机台架构，能用以测试系统单芯片、系统级封装、以及高速内存芯片。V93000在全球安装的系统数已超过1,500套，不论是进行全速的工程特性量测或是大量的生产制造，都能解决业者在性能及成本上面临的严苛挑战。这套测试系统可提供大规模的多组件测试能力，能支持高达12.8 Gbps的数据速率，以及各种数字、混合信号及射频的应用。V93000可降低便携电话、WLAN、WiMAX及UWB等无线通讯应用的测试成本。