2007年11月5日 – Dage Precision Industries宣布新的XiDAT XD7500NT数字式x射线检测系统能够进行亚微米检，使用密封型x射线管，无须维护。

    XD7500NT 能够进行亚微米检测，使用XiDAT(x射线数字采集技术)，能够以70度的角度、360度的范围对18” x 16” (458 x 407 mm)的印刷电路板进行检查。

    XD7500NT使用NT x射线管，最小能够识别 950纳米，它的x射线管是密封的，不需要维护。它在二十吋的LCD平板显示器上进行实时检查，分辨率达到1.3兆像素，系统的放大倍数为7400。XD7500NT可以选用XiDAT 2.0 图像采集系统，在24吋的平板LCD显示器上进行实时检查，分辨率达到2.0兆像素。