无铅焊目前是电子制造业中主要的焦点之一,从有铅焊转变到无铅焊并不仅仅是单纯的材料代换而已,它还带来了许多可靠性方面的困扰。本课程将介绍当前最关紧要的无铅焊点可靠性测试与分析的议题,培训重点将放在器件级与板级的测试方法与失效分析。同时也将介绍有限元仿真与焊点面向可靠性设计相关的观念和知识。本课程的教材是以讲师所著的三本书“Chip Scale Packa+ges”,“Microvias for Low-Cost High-Density Interconnects”,和“Electronics Manufacturing with Lead-Free, Halogen-Free, and Conductive Adhesive Materials”的内容为主轴,并加上他近期的研究成果以及与业界互动的心得。所有参加本课程的人士都将会收到一份详尽的讲义。