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2009年1月6-7日/ 9-10日新课程“电子产品的失效分析技术与经典案例”

【来源:深圳市拓普达资讯有限公司培训部】【编辑:toptouch】【时间: 2008-11-25 8:33:53】【点击:

中国电子学会SMT咨询专家委员会办事处

中国电子专用设备工业协会

美国SMTA深圳办事处

大力发展面向“世界工厂”的职业教育和培训


   

课程作用

 

 电子产品在不断与失效作斗争中不断提高可靠性,失效分析是与产品失效作斗争的最有效的工具,通过对失效产品的失效分析,诊断失效产品的失效机理,以失效机理为引导,进一步分析诱发失效机理的应力,从而诊断引起产品失效的根本原因,最终,从产品失效的根本原因所涉及的因素(如产品的材料、结构、工艺的缺陷,或产品使用不合理)入手,采取有针对性的措施,彻底消灭产品失效或有效控制产品失效。

 

课程概要

 

“失效分析技术与经典案例”首先介绍电子产品(包括各种元器件、集成电路、组件等)失效分析的程序和方法,主要的失效分析设备及其应用技巧,以及失效分析中要注意的关键问题。然后,通过典型的失效分析案例展现产品的失效分析中怎样考虑问题、怎样采用合适的分析手段(分析仪器、设备),怎样提取证据,怎样识别各种失效机理,怎样对获得的各方面的信息、证据进行综合分析以达到对失效产品进行准确诊断的目的。

 

课程目的

 

“失效分析技术”让您系统了解失效的程序与方法,掌握失效分析的各种分析手段(仪器、设备);“经典案例”让您掌握电子产品的主要失效模式和失效机理,掌握失效分析的核心:分析思路,机理的识别,分析手段(仪器、设备)的应用技巧。

 

授课对象:

 

 从事电子元器件(包括集成电路)失效分析的工程师,质量、可靠性工程师和管理人员。

 


本课程将涵盖以下主题 

第一部分:电子元器件失效分析程序和方法

1.失效分析技术常用名词解释;

2.失效分析的作用;

3.失效的程序和方法;

4.失效分析要求以及注意的问题;

5.失效分析手段(仪器、设备)使用技巧。

第二部分:经典失效分析案例

1.完整分析过程的案例:

通过具体的分析案例,介绍失效分析的全过程。该案例中详细讲述元器件失效中如何根据产品的基本信息(工作原理、材料、结构)和失效的表现制定分析路线(分析思路),采用合适的分析手段提取失效证据,并及时根据所提取的信息(证据)调整分析思路;以及对分析过程中提取的信息(证据)进行综合分析,实现准确诊断。同时,通过这个具体的分析案例,讲述电子元器件失效中的分析层次的问题。

2. 针对失效机理和失效原因的经典案例:

按照电子元器件的失效机理或失效原因分类,讲解各种典型失效的失效特征,诊断技巧。案例是中国赛宝实验室(信息产业部电子第五研究所,简称广州五所)可靠性研究分析中心近年来失效分析的经典案例,案例包括:

1)材料缺陷引起的失效;

2)结构缺陷引起的失效;

3)制造工艺缺陷引起;

4)静电损伤引起的失效;

5)电浪涌引起的失效;

6)机械应力引起的失效;

7)热变应力引起的失效;

8)污染腐蚀引起的失效;

9)使用不当引起的失效

10)元器件固有机理引起的失效。

同时,在经典案例讲解中,还包括各种类型的元器件的常见失效模式和失效机理,分析方法和分析技巧。

 

 

第三部分:失效分析技术在电子元器件采购批的质量控制中的应用

   介绍失效分析手段怎样在电子产品采购批进行质量、可靠性评价,以及存在批次缺陷的电子产品怎样批进行无损的物理筛选。

相关事宜

证书:由中国电子专用设备协会颁发培训证书(在深圳拓普达资讯有限公司和中国电子专用设备协会有备案,并可在www.smte.net查询)。请自备一寸红色背景彩照一张.

开课时间:苏州2009年1月6-7日/ 深圳2009年1月9-10日

开课地点:苏州平江区/深圳南山区

培训收费:SMTe会员价:¥1800元/人      非会员价:¥2100元/人 

四人以上团体报名可获得非会员价的8折优惠价

(以上收费含教材费、听课费、咨询费、培训证书费、工作午餐费、茶水费,其余食宿交通自理,如需定房请告知。)

◆联系人:罗丹、温美婷、李群、董艳、沈丽、杜艳平、王丹

◆电话:深圳 0755-86196419  86196417  传真:0755-86196453

      苏州 0512-68380835  传真:0512-68380836-602    

E-mailSales@toptouch.com.cn

注:本公司竭诚为企业提供内部培训。培训内容可根据您的需要设计,企业内部培训人数不受限制,培训时间由企业灵活制定。热诚欢迎您的垂询。

 
 

讲师-李少平讲师

 

李少平:高级工程师,1984年毕业于成都电讯工程学院(现中国电子科技大学)半导体器件专业,毕业后一直在中国赛宝实验室(信息产业部电子第五研究所)可靠性研究分析中心从电子产品可靠性分析、研究工作。长期从事电子产品失效分析方法研究和失效分析工作,具有丰富的分析经验,并积累了大量的经典分析案例。


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